MicroCT的空間分辨率測試解決方案
多年來，已經提出了許多評估microCT系統性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點尺寸。這就是為什么許多測試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統的機械精度。與持續時間相對較短的2D測試相比，所需的時間穩定性要求更為嚴格。最后，處理和重建算法對3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。
MicroCT的3D空間分辨率測試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom
評估3D空間分辨率的一個很好的工具是可用德國QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個分辨率測試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺式高分辨率微CT為例。
可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測試對象（例如鋁銷）的掃描的測試方法。3D空間分辨率通過調制傳遞函數進行量化。另外，給出了確定對比靈敏度的指令。
來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內微型CT進行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。
MicroCT 2D空間分辨率——JIMA RT RC-04分辨率測試卡
詳細參數見具體產品詳情頁：
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德國QRM是一家質控模體生產廠家，主要重點是診斷X射線，CT和微CT成像領域。能夠提供模體來分析圖像質量（IQ），校準HU級別以及劑量學問題。
JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。